تشخیص عیب بر اساس داده در سیستم های فتوولتائیک به منظور افزایش قابلیت اطمینان و بازدهی [پايان نامه فارسي]

داود طهماسبی نژاد

شناسگر رکورد: ۲۰۶۹۸
رشته تحصیلی: معماری سیستم های کامپیوتری
عنوان: تشخیص عیب بر اساس داده در سیستم های فتوولتائیک به منظور افزایش قابلیت اطمینان و بازدهی
نويسنده: داود طهماسبی نژاد
استاد راهنما : دکتر نرگس صادق زاده
مقطع تحصیلی : کارشناسی ارشد
دانشگاه : خاتم
تاریخ دفاع : ۱۳۹۶
چکیده: چکیده در این پایان نامه به بررسی و تشخیص عیب بر اساس داده در سیستم های فتوولتائیک به منظور افزایش قابلیت اطمینان پرداخته می¬شود. سیستم های فتوولتائیک خورشیدی (SPV) قدرت الکتریکی را از منبع پاک کننده، آرام و بدون آلودگی باز مصرف کننده انرژی تولید می کند که هر زمانی که آفتاب منظم وجود دارد، قابل دسترسی است. آرایه های SPV به عنوان جایگزین های قابل قبول برای منابع انرژی برای پاسخگویی به نیازهای انرژی الکتریکی در نقاط دورافتاده و جدا شده غیر الکتریسیته شناخته شده اند در این پایان¬نامه هدف مطالعه انواع خطاهای منجر به حادثه ویا خطاهایی است که قابلیت اطمینان و بازدهی سیستم فتوولتائیک را پایین آورده و به دنبال آن ارائه روش تحلیلی تشخیص عیبی است که قادر به تشخیص خطا در سیستم های فتوولتائیک در زمان واقعی با دقت بالا باشد. دست یابی به یک الگوریتم قابل پیاده سازی در سیستم های فتوولتائیک از اهداف اصلی این کار خواهد بود که حتی المقدور مشکلات روش های موجود را مرتفع سازد. برای تحلیل قابلیت اطمینان در سیستم قدرت کوچک جدا شده با استفاده از فتوولتائیک خورشیدی(SPV) شیوه مونت کارلو (MCS) و برنامه MATLAB توسعه یافته طراحی شده است. روش های مختلف پیش بینی شار خورشیدی همراه با روش متوسط خورشیدی ساعتی (HMSR) مقایسه شده است. مقایسه بر اساس تولید پیش بینی شده برق با قدرت واقعی تولید شده توسط سیستم SPV انجام می شود. برآورد قدرت فتوولتائیک خورشیدی با استفاده از روش HMSR نزدیک به قدرت واقعی تولید شده توسط سیستم SPV است. در نهایت مطالعات موردی برای جزیره ساگاردیپ در ایالت غرب بنگال هند ارائه شده است. کلید واژه¬ها سیستم های فتوولتائیک خورشیدی، قابلیت اطمینان، روش تحلیلی شخیص عیب، شیوه مونت کارلو
شماره ثبت جزء نسخه جلد بخش قسمت مرجع شماره بازیابی در دست امانت تاریخ بازگشت ملاحظات
284232 1
Copyright 2025 by Payam Hannan co ltd. PayamLib.com